集成电路测试员实习报告

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集成电路测试员实习报告篇一：集成电路实习报告1

长安大学

集成电路实习报告

院系：电控学院电子科学与技术系 专业名称：电子科学与技术 班级：24050601 学号：2405060136 学生姓名：钱德亮 指导教师：邱彦章 肖剑

一、 实习目的

通过集成电路实习，掌握数字集成电路的设计流程和前端设计方法；熟悉Synopsys公司的电路仿真工具VCS和逻辑综合工具DC，完成密勒解码器的设计。

二、实习时间

2009年11月 30日～2009年12月11日

三、实习地点

国家集成电路设计西安产业化基地

四、实习内容 密勒解码器设计

一、题目：

设计一个密勒解码器电路 二、输入信号：

1． DIN：输入数据

2． CLK：频率为2MHz的方波，占空比为50％ 3． RESET：复位信号，低有效 三、输入信号说明：

输入数据为串行改进密勒码，每个码元持续时间为8μs，即16个CLK时钟；数据流是由A、B、C三种信号组成；

A：前8个时钟保持“1”，接着5个时钟变为“0”，最后3个时钟为“1”。 B：在整个码元持续时间内都没有出现“0”，即连续16个时钟保持“1”。 C：前5个时钟保持“0”，后面11个时钟保持“1”。 改进密勒码编码规则如下： 如果码元为逻辑“1”，用A信号表示。 如果码元为逻辑“0”，用B信号表示，但以下两种特例除外：如果出现两个以上连“0”，则从第二个“0”起用C信号表示；如果在“通信起始位”之后第一位就是“0”，则用C信号表示，以下类推；

“通信起始位”，用C信号表示； “通信结束位”，用“0”及紧随其后的B信号表示。 “无数据”，用连续的B信号表示。 输入数据信号示例如下：（S代表“通信起始位”，E代表“通信结束位”）

注意：当DIN为“1”时，CLK信号为连续的2MHz方波；当DIN为“0”时， 为便于理解，特将A信号图示如下： DIN：

CLK四、输出信号：

1． DOUT：输出数据

2． DATA＿EN：输出数据使能信号 3． BIT＿EN：码元使能信号 五、输出信号规定：

DATA＿EN：

DOUT：

010 0 1

BIT＿EN：

DATA＿EN信号从“0”变为“1”到变回“0”，表示收到一帧完整的数据，DOUT和BIT＿EN只有在DATA＿EN为“1”时才是有效的；BIT＿EN信号为“1”时，DOUT的值即为当前码元。上图表示解码结果为0100101。

注意，“通信起始位”和“通信结束位”在输出信号中必须消去。 六、设计要求

● 设计一个密勒解码电路，输入信号为如下4帧数据：10010110、00010100、10100101、00100111（与前面输入数据信号示例相同），正确完成解码，并使输出信号符合规定。 ● 可不考虑错码。

● 请首先提供书面设计方案

1．总体设计框图

密勒解码器设计

CDRUT

TA_EN 2．总体设计思路说明

整个系统分为两个模块：检测模块和解码模块。检测模块主要完成从输入串行序列判断出A，B或C信号，并分别输出脉冲标志脉冲串Signal_A，Signal_B和Signal_C；同时，当检测到任一信号时，BIT_EN_temp输出一个高脉冲。解码模块根据检测模块输出的三个标志脉冲进行0/1解码，输出最终的密勒解码数据DOUT；同时，输出DATA_EN和BIT_EN两个标志信号。

3． 各个模块设计及时序关系说明

3．1 检测模块

由于时钟不完整，我们只能计算高电平个数，假设count为输入数据低电平之间高电平的个数；分析发现，根据前一个信号状态与count的值可以判定下一

个信号状态，如下表所示：

因此检测模块处理流程包含三个部分：计数部分，信号状态转移部分和检测输出部分。

计数部分：系统复位后处于B状态，设定一个5位寄存器count_temp，每个CLK上升沿进行计数，记满后保持原值不变（此时必定处于无效状态）；当DIN＝0时，一次计数完成，将count_temp的值赋给count保存，同时count_temp清零，准备下一次计数；count值送入“信号状态转移部分”，与当前信号一起判断下一个信号状态。这里要注意，当下一状态为B时，状态改变了但计数值没有清零(DIN＝0时count(来自:www.hnnSCY.cOm 博文学习 网:集成电路测试员实习报告)才清零)，如对于A状态，如果count>12（则下个状态是B），则将count_temp的值先保存，以得到B状态。然后再在B状态中根据count_temp最终的值，判断下一个状态。

信号状态转移部分：如图2－1所示(参考表一)

RESET

图2－1：信号状态转移图

检测输出部分：若状态为A或C时，且在下一CLK上升沿，count_temp变为1，说明count_temp先被清零了，已经检测到一次A或C，因此Signal_A或Signal_B输出一次高脉冲；若状态为B，且count_temp>12或count_temp>20表

示count_temp还未清零，检测到一次B，信号Signal_B输出一次高脉冲。 3．2 解码模块

与检测模块思想一致，根据本次状态和上次状态来判断是开始位，有效数据位或停止位。因此，我们可以设计一个三状态的有限状态机分别代表开始状态start，数据状态data或停止状态idle。A，B，C三个信号两两组合共有9组信号，其中AC信号不存在，BB，CB信号表示停止（参看表一）；在idle状态下如果检测到BC则表示数据传输开始，进入start状态，即start状态前一个状态为C，若当前状态为B，则进入idle状态，若当前状态为A或C则进入data状态。在data状态中有 AB，AA，BA，BC，CA，CC六种有效状态，若状态变为BB或CB则表示数据传输结束，进入idle状态。整个状态转移图如图3－1所示。

在有效状态下，DATA_EN置高，输出DOUT根据miller编码思想和输入状态来决定，如输入A则DOUT＝1，输入B/C，DOUT＝0。BIT_EN可由BIT_EN_temp与DATA_EN相与得到。

REAA/AB BA/BC CC/CA

图3－1：有效数据状态转移图

4． 附件

4．1 文件清单及目录结构

本文档清单如下： “源代码”文件夹：

miller_decode.v 顶层模块

miller_decode_tb.v顶层模块测试程序 Signal_detect.v检测模块

Signal_detect_tb2.v检测模块测试程序 decode.v解码模块

decode_tb.v解码模块测试程序 “结果波形文件夹”：

miller_decode_1.bmp 密勒解码器总体输入输出波形图

miller_decode_2.bmp 密勒解码器总体输入输出波形局部放大图

Signal_detect_1.bmp 密勒解码器检测模块输入输出波形图 Signal_detect_2.bmp 密勒解码器检测模块输入输出波形局部放大图

decode.bmp密勒解码器解码部分波形图

集成电路测试员实习报告篇二：模拟电子实习指导书

《模拟电子技术课程》 实习 教 学 指 导 书

课程编号：

撰写人： 审核人：

湘 潭 大 学 能源工程学院 二○一一年十月十二日

前 言

一、实习总体目标

进一步巩固和加深理论知识，培养和训练学生综合设计及创新能力，独立实践、独立分析问题和解决问题的能力。同时注意培养学生实事求是、严肃认真的科学作风和良好的实验习惯，为今后工作打下良好的基础。 二、适用专业年级

电子信息科学与技术专业的本科学生 三、先修课程 电路分析

四、实习项目及课时分配

五、实习环境

电子技术实验室 六、实习总体要求

正确使用常用电子仪器，如双踪示波器、信号发生器、万用表、稳压电源等。掌握基本的测试技术，如测量频率、周期、脉冲波形参数等。根据技术要求能选用合适的元器件，设计常用的小系统，并进行组装和调试。 七、本课程实习的重点、难点及教学方法建议

1.各种半导体器件的电学特性，工作特点及其在电路中的作用。 2.模拟信号线性变换电路的工作原理和分析方法 3.模拟信号非线性变换电路的工作原理和分析方法。

课题（一）常用电子器件的认识及焊接练习

（一）实习目的

﹙1﹚ 熟悉常用电子元器的结构原理. ﹙2﹚ 掌握常用电子器件的测试方法. ﹙3﹚ 掌握不同元器件的测量及焊接方法. （二）实习器材

﹙1﹚ 常用电子元器件如三极管、二极管、电阻、电容等. ﹙2﹚ 特殊元气件、如光敏管、晶体、驻极体、集成电路IC等. ﹙3﹚ 通用示波器一台 ﹙4﹚ 万用表一块.

﹙5﹚ 电烙铁一把.（20W-30W） （三）实习基本要求

1.会测试识别元器件种类、熟悉三极管等器件的特性参数、并能根据电路需要进行选用、电阻的认读及测量。

2.掌握检查常用器件好坏的方法。﹙含在路检测﹚

如三极管、二极管、不同阻值的电阻及不同容量的电容、不同种类的电阻、电容等。

3.会进行特殊器件的鉴别

包括光敏器件﹙光电阻、光偶、光敏二极管等﹚、可控硅、单结管、COMS器件、大功率开关器件等。

说明:可根据实训情况选用不同的器件形式及种类. 5.焊接基本练习 1)基本要求

A. 建立基本单元电路，会根据原理图正确安装焊接。

B. 元件焊点平滑光亮、均匀、无毛刺、直径在2MM（根据情况）以内。 C. 焊接手法快速、无虚焊假焊脱焊堆焊等现象。 D. 无焊接时烧坏元件的现象。

E. 元气件的拆焊迅速，会进行集成电路的拆焊操作。 F. 器件弯脚插接、布局符合要求.